KİK Kararı: 2010/UM.II-1030

KAMU İHALE KURULU KARARI
Toplantı No : 2010/025
Gündem No : 81
Karar Tarihi : 06.04.2010
Karar No : 2010/UM.II-1030
BAŞVURU SAHİBİ:
İncekara Teknik Cihazlar Endüstri ve Tic. A.Ş., Nasuh Akar Mah. 25 Sk. No:16 Balgat/ANKARA

İHALEYİ YAPAN İDARE:
Sakarya Üniversitesi Rektörlüğü Döner Sermaye İşletme Müdürlüğü, Esentepe Kampüsü 54100 Serdivan/SAKARYA

BAŞVURUYA KONU İHALE:
2010/792 İhale Kayıt Numaralı "Atomic Force Microscope (Afm)" İhalesi

KURUM TARAFINDAN YAPILAN İNCELEME:

02.04.2010 tarih ve II.M.06.47.0223/2010-8E sayılı Esas İnceleme Raporunda;

Sakarya Üniversitesi Rektörlüğü Döner Sermaye İşletme Müdürlüğü tarafından 04.02.2010 tarihinde açık ihale usulü ile yapılan “Atomic Force Microscope (AFM) Alımı” ihalesine ilişkin olarak İncekara Teknik Cihazlar Endüstri ve Tic. A.Ş.’nin 19.02.2010 tarihinde yaptığı şikayet başvurusunun, idarenin 01.03.2010 tarihli yazısı ile reddi üzerine, başvuru sahibinin 09.03.2010 tarih ve 4898 sayı ile Kurum kayıtlarına alınan 09.03.2010 tarihli dilekçe ile itirazen şikayet başvurusunda bulunduğu,

İdare tarafından gönderilen bilgi ve belgelerin incelenmesinden;

4734 sayılı Kanunun 54 üncü maddesinin onuncu fıkrasının (a) bendi gereğince, ihalenin iptaline,

Karar verilmesinin uygun olacağı hususlarına yer verilmiştir.

KARAR:

Esas İnceleme Raporu ve ekleri incelendi:

İtirazen şikayet dilekçesinde özetle; ihale üzerinde bırakılan isteklinin teklif ettiği cihazın, teknik şartnamenin 7, 8, 14, 16 ve 18 inci maddelerine uymadığı iddialarına yer verilmiştir.

Başvuru sahibinin iddialarının değerlendirilmesi sonucunda aşağıdaki hususlar tespit edilmiştir:

İhale ilanının 4.3.2 nci maddesinde ve idari şartnamenin 7.5.2 nci maddesinde; “ İstekliler teklif ettikleri malzemelerin özelliklerinin ve vasıflarının görsel açıdan da daha iyi anlaşılabilmesi için ihale komisyonuna katalog sunacaklardır.” düzenlemesi bulunmaktadır.

Mal Alımı İhaleleri Uygulama Yönetmeliği’nin “Tedarik edilecek malların numuneleri, katalogları, fotoğrafları ile teknik şartnameye cevapları ve açıklamaları içeren doküman” başlıklı 43 üncü maddesinin birinci fıkrasında,**** teklif edilen malın teknik şartnamede yer alan teknik kriterlere uygunluğunu belirlemek amacıyla numune, teknik bilgilerin yer aldığı katalog, teknik şartnameye cevapları ve açıklamaları içeren doküman ile fotoğrafın ayrı ayrı veya birlikte istenebileceği düzenlenmiştir.

İhale dokümanında yer alan düzenlemeler uyarınca teklif edilen cihazın teknik şartnameyi karşılayıp karşılamadığının kataloglar üzerinden tespit edileceği anlaşılmıştır.

Başvuru sahibinin iddialarının yerinde olup olmadığının tespiti için ihale teknik şartnamesi, ihale üzerinde bırakılan isteklinin sunduğu teklif edilen cihazın teknik özelliklerini gösteren katalog ve diğer taraftan, dayanağı bakımından itiraz edilen işlemin -eşit muamele ilkesi gereği- mevzuata uygun olup olmadığı ile ilgili olarak ekonomik açıdan en avantajlı ikinci teklif sahibinin teklifinin değerlendirilmesi için başvuru sahibi tarafından sunulan katalog da gönderilmek suretiyle bir akademik kuruluştan görüş istenilmiştir. Kuruma ulaşan görüş yazısında;

“ Atomic Force Microscope (AFM) ihalesine ilişkin olarak yapılan şikayetle ilgili tarafıma gönderilen dosyayı incelemiş bulunmaktayım. İtiraz maddelerine ayrı ayrı değinmeden önce şunu belirtmekte yarar olduğu kanısındayım. AFM teknik şartnamesi hazırlanırken üçüncü bir firmanın benzer ürününe ilişkin özelliklerin bire bir listelendiği anlaşılmaktadır. Zira verilen ölçülerle ilgili (özellikle tarayıcıların tarama alanları gibi) belli başlı standartların olmadığı bilinmektedir. Bir tahminde bulunmak gerekirse, şartnameye uyan firma yüksek fiyat nedeniyle ihaleyi kazanamamış olabilir. Bu durumda ihaleyi kazanan firmanın cihazının standart dışı şartları tam olarak karşılamıyacağı beklenebilir. Ancak yapılan itirazların kısmen abartılı kısmen yersiz olduğu değerlendirilmektedir. Ayrıca başvuru sahibi firma ürünü olan Dimension 3100'ün de itiraz konusu olan şartlan sağladığına dair ne ekte verilen cihaz dokümanında ne de ilgili internet sayfasında bir bilgiye rastlanmamıştır.

İtirazlarla ilgili görüşlerim aşağıdaki gibidir.

__

İTİRAZ 7) Teknik şartnamenin 7. maddesinde belirtilen "Farklı tarama boyutlarındaki performansı optimize etmek için sistemin kolay değiştirilebilir tarayıcıları bulunmalıdır..." Bu koşul sağlanmaktadır. İhaleyi kazanan firma takılıp çıkanlabilen beş farklı boyutta tarayıcı ünitesi sunmaktadır. Başvuru yapan firmanın sunduğu cihazda ise sadece 90x90x10 mikron boyutunda bir tarayıcı bulunmaktadır." ...bu tarayıcılar 0,4x0,4x0,4 mikron ile 125x125x125* mikron arasında farklı boyutlarda..." Verilen bu iki boyut Özellikle dahil edilmiş değil, bu iki boyut arasında farklı boyutlarda denmiş, ancak bu farklı boyutlar özellikle belirtilmiş değil, yani bu ikisi arasında olmak kaydıyle herhangi bir boyuttaki bir tarayıcı koşulu sağlayacaktır. İhaleyi kazanan firmanın sunduğu tarayıcılar 100x100x10 mikron, 50x50x6 mikron, 10x10x4 mikron, 3x3x2,6 mikron ve 1x1x1,1 mikron boyutlarında olup, DualScan modda çalıştığında, yani hem prob hem de örnek hareket ettirildiğinde tarama boyutları 200x200x20 mikron değerlerine çıkabilmektedir. Diğer taraftan 3 ve 10 mikronluk tarayıcılar kullanıldığında özel sensörler yardımıyle tarama boyutları 0,4 mikronun (= 400 nanometre) da altına, sırasıyle 50 ve 100 nanometreye inilebilmektedir.

*Burada z-yönündeki (düşey) hareket için verilen 125 mikron şartının hatalı olduğu kanısındayım. Bu değer daha çok profilometre tipi cihazların özelliklerine uymaktadır. AFM için bu değer genelde maksimum 10 mikron mertebesindedir.

"Sistem ile standart olarak 90x20x9 mikronluk bir tarayıcı verilmelidir." Bu şart sağlanmamaktadır. Ancak burada da bir hata olduğu kanısındayım. Zira yatayda x-yönünde 90 mikron tararken ve yine yatayda y-yönünde sorunsuz 90 mikron tarayabilecekken 20 mikron tarama koşulunun anlamlı olmadığı kanısını taşımaktayım.

__

İTİRAZ 8) Teknik şartnamenin 8. maddesinde istenen problar sarf malzemesi olup bir çok kaynaktan temin edilebilir. Dolayısıyle ihaleye giren firmalar kendisi üretmiyorsa üretici bir firmadan temin etmek suretiyle bu şartı yerine getirmek durumundadır. Bu nedenle itirazın yersiz olduğu kanısındayım.

__

İTİRAZ 14) Teknik şartnamenin 14. maddesinde

"... Eşzamanlı en az 12 farklı kanaldan görüntü alabilme özelliklerine sahip olmalıdır."

Bir çizginin ya da satırın taranması sırasında enstrümental hataları gidermek amacıyla iki yönde tarama yapılır (double scan), yani aynı satır önce soldan sağa sonra sağdan sola taranır ve piksel bazında Ölçülen iki değerin ortalaması piksel değeri olarak görüntüyü oluşturur. Dolayısıyle anında görüntü yani gerçek piksel değerinin ekrana aktarılması dönüş taraması sırasında yapılmaktadır. Bu yüzden eşzamanlı 16 kanal görüntü alabilme özelliğine sahiptir demek (eşzamanlı 8 kanal görüntü alabilme özelliğine sahiptir demekten) daha doğru olur.

__

İTİRAZ 18) Teknik şartnamenin 18. maddesinde belirtilen

"cihazın aksamı titanyum olmalıdır" ifadesinin eksik bir ifade olduğu, cihazın tamamının titanyum olamıyacağı, belli bir aksamının titanyum olması şeklinde anlaşılması gerektiği kanısındayım. Bu nedenle yapılan itiraza verilen yanıtta belirtildiği gibi cihazın gövdesinin titanyum olmasının bu koşulu sağlayacağını değerlendirmekteyim.

Sonuç olarak,

1) Başvuru sahibinin iddialarının yerinde olmadığı,

2) Başvuru sahibi tarafından teklif edilen cihazın, Ek:3'te verilen dokümanı incelendiğinde, teknik şartnamenin (EK:1) şikayete konu edilen maddelerine ilişkin olarak teknik şartnameye uygun olmadığı görüşündeyim.” hususları ifade edilmiş olup, teknik şartnamenin şikayete konu maddeleri bakımından, ihale üzerinde bırakılan isteklinin teklif ettiği cihazın, teknik şartnameyi karşıladığı, ancak başvuru sahibinin teklif ettiği cihazın kriterleri sağlamadığının belirtildiği anlaşılmıştır.

Yukarıda anılan görüş doğrultusunda, ihale komisyon kararının iptal edilerek, ekonomik açıdan en avantajlı ikinci teklif sahibi olan başvuru sahibi isteklinin teklifinin değerlendirme dışı bırakılması gerekmektedir.

Sonuç olarak, yukarıda mevzuata aykırılıkları belirtilen hususların düzeltici işlemle giderilebilecek nitelikte olduğu anlaşıldığından ekonomik açıdan en avantajlı ikinci teklif sahibi olan başvuru sahibinin teklifinin değerlendirme dışı bırakılması suretiyle tekliflerin değerlendirilmesi ve sonraki aşamanın mevzuata uygun olarak yeniden gerçekleştirilmesi gerekmektedir.

Açıklanan nedenlerle, 4734 sayılı Kanunun 65 inci maddesi uyarınca bu kararın tebliğ edildiği veya tebliğ edilmiş sayıldığı tarihi izleyen 60 gün içerisinde Ankara İdare Mahkemelerinde dava yolu açık olmak üzere;

Anılan Kanunun 54 üncü maddesinin onuncu fıkrasının (b) bendi gereğince, düzeltici işlem belirlenmesine,

Oybirliği ile karar verildi.